Измерения Scan/SIM (FASST)

 

Возможность одновременного высокоскоростного получения данных
в режимах Scan и SIM

Функция FASST (Fast Automated Scan/SIM Type) – техника получения данных, позволяющая одновременно работать в режимах регистрации полного ионного тока Scan и регистрации отдельных ионов SIM.Впервые представленная в предыдущей модели, данная функция применяется как в сборе спектральных данных качественного анализа (режим сканирования Scan), так и в сборе и обработке данных количественного анализа (режим SIM). 


Применение техники ASSPTM дополнительно улучшает процесс сбора данных благодаря уменьшению в пять раз времени простоя прибора в режиме регистрации отдельных ионов без ухудшения чувствительности, позволяя контролировать больше каналов SIM.
Scan/SIM Simultaneous data acquisition