IG-1000 plus

Путешествие в суб-нано диапазон

Анализатор размеров наночастиц IG-1000

Анализатор размеров наночастиц IG-1000 Plus — это уникальный инструмент, который позволяет проводить измерения не только в нано-, но и в суб-нанодиапазоне. Революционный метод измерения, созданный компанией Шимадзу, позволяет измерять размеры наночастиц в диапазоне от 0,5 до 200 нм с высокой точностью простым и эффективным способом.

Высокочувствительный анализ размеров наночастиц

Для анализа используется метод индуцированной решетки (induced grating — IG), который базируется на новом принципе измерения размеров наночастиц. Этот метод позволяет даже в области одиночных наночастиц получать хорошее соотношение сигнал/шум, благодаря чему возможны стабильные измерения с хорошей воспроизводимостью.

Сопротивляемость загрязнению

Благодаря использованию метода индуцированной решетки (IG), загрязнение исходного образца не оказывает существенного влияния на результаты измерения. Таким образом, даже если образец смешан с некоторым количеством посторонних частиц, информация об анализируемых частицах регистрируется достоверно. Фильтрация проб для удаления крупных частиц не является обязательной.

Высокая воспроизводимость

Новый метод измерения (IG) гарантирует высокую воспроизводимость и получение стабильных данных и, следовательно, устраняет недостоверность и неточность при анализе частиц в нано-области. Это является особенно важным при анализе частиц размером меньше 10 нм.

Что такое «Метод индуцированной решетки»?

На специальным образом расположенные электроды, помещенные в среду с диспергированными частицами, подается переменное напряжение. Вследствие этого создаётся определённое расположение частиц в жидкости, так называемая индуцированная дифракционная решетка. Если прекратить подачу напряжения, то частицы диффундируют и дифракционная решетка распадается. Сенсоры регистрируют изменение интенсивности света при распаде дифракционной решетки, что позволяет получить данные о распределении частиц по размерам.

intensity of the diffracted light

Пинципиальная особенность Метода индуцированной решетки

-Высокая точность измерений достигается при помощи специальной конструкции электродов-

Электроды, на которые подается переменное напряжение, также представляют собой дифракционную решетку. Интенсивность рассеянного света, создаваемого этой решеткой ниже интенсивности света рассеиваемого дифракционной решеткой частиц. Если прекратить подачу напряжения, то частицы диффундируют, и дифракционная решетка распадается. При этом интенсивность света, рассеянного частицами, постепенно падает. Для того, чтобы обеспечить точность измерения падения интенсивности света в процессе диффузии, важно разделить дифракционные картины, получаемые от решетки электродов и от рассеяния света частицами. Поэтому электроды сконструированы таким образом, что шаг дифракционной решетки частиц, которая формируется при подаче напряжения, в 2 раза больше шага дифракционной решетки самих электродов (подана заявка на патент).

Содержание страницы может быть изменено без предварительного уведомления.

Top of This Page