Непревзойдённые аналитические характеристики

Высокопроизводительный SDD детектор и оптическая схема обеспечивают высокую чувствительность и скорость анализа, позволяют достичь лучшего разрешения, которые ранее были недостижимы. Спектрометры EDX-8000P/8100P позволяют определять элементы начиная с углерода (6С).

Высокая чувствительность: пределы обнаружения улучшены в 1,5–5 раз

Высокопроизводительный SDD детектор в сочетании с оптимизированной рентгеновской оптикой и первичными фильтрами позволяют достичь высочайшего уровня чувствительности. Чувствительность возросла по сравнению с предыдущим Si (Li) детектором во всем диапазоне определяемых элементов.

Высокая скорость: производительность возросла в 10 раз

Высокая скорость счета рентгеновского флуоресцентного излучения SDD детектором позволяет проводить точный анализ за более короткое время, что особенно характерно для анализа образцов, генерирующих большое количество флуоресцентного рентгеновского излучения, например, металлов.

Производительность EDX-7000/8000/8100 возросла в 10 раз

Продление времени измерения для увеличения интегральной интенсивности вторичного флуоресцентного излучения может увеличить точность (воспроизводимость) данных рентгенофлуоресцентной спектрометрии. EDX-7000P/8000P/8100P укомплектован высокоскоростным SDD детектором, позволяющим выполнять высокоточный анализ за более короткое время измерения, чем предыдущие модели спектрометров.

Высокое разрешение

Спектрометры EDX-7000P/8000P/8100P имеют лучшее по сравнению с предыдущими моделями разрешение. Это позволяет уменьшить перекрывание пиков, повышая надежность результатов анализа.

Диапазоны определяемых элементов

Примерные пределы обнаружения в матрице на основе лёгких элементов:

Для измерения легких элементов (от порядкового номера 15P и ниже) на спектрометре EDX-7000P/8100P требуется дополнительная вакуумная система или блок продувки гелием.
Для измерения легких элементов (от порядкового номера 15P и ниже) на спектрометре EDX-8000P требуется дополнительная вакуумная система.
Пределы обнаружения варьируются в зависимости от матрицы образца и других присутствующих в нем элементов.
Пределы обнаружения лёгких элементов с порядковым номером 20 (кальций) и ниже ухудшаются при использовании пленки для образцов.
Элементы с порядковым номером 8 (кислород) и ниже невозможно измерять в случае использования плёнки для образцов.

Определение ультралегких элементов на EDX-8000P/8100P

EDX-8000P/8100P имеет SDD детектор со специальным ультратонким окном и способен определять такие элементы, как углерод (С), кислород (О), фтор (F).