SolidSpec-3700/3700DUV

УФ-ВИД-БлИК спектрофотометр для исследования оптических материалов, полупроводников и т.д.

 
Спектрофотометр SolidSpec-3700/3700DUVСпектрофотометры серии SolidSpec-3700/3700DUV отличает высокая чувствительность, возможность проведения измерений в широком спектральном диапазоне (от глубокого УФ до ближнего ИК-диапазона), а также большое кюветное отделение.
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
Исследование покрытий:
Высокочувствительные измерения от вакуумного УФ до ближнего ИК-диапазона, большое кюветное отделение для исследования изменений свойств покрытий
Полупроводники:
Анализ поверхности полупроводников
Оптические материалы:
Высокочувствительное измерение антиотражающих покрытий в ближнем ИК-диапазоне
Оптика:
Высокочувствительные измерения от вакуумного УФ до ближнего ИК-диапазона, большое кюветное отделение

 

Особенности SolidSpec-3700/3700DUV 

 

В обычных спектрофотометрах фотоэлектронный умножитель, используемый в качестве детектора для ультрафиолетовой и видимой области, и PbS детектор для измерений в ближнем ИК-диапазоне не могут обеспечить высокую чувствительность на границе ближнего ИК и видимого диапазонов. SolidSpec-3700 / 3700 DUV успешно решает данную проблему.

Это первый спектрофотометр для УФ-видимого и ближнего ИК-диапазона с тремя детекторами: ФЭУ + полупроводниковые на основе InGaAs и PbS. Полупроводниковые детекторы обеспечивает чрезвычайно высокую чувствительность на границе ближней ИК-области и видимого диапазона. Низкие значения шума при работе с малопрозрачными образцами делают данный спектрофотометр незаменимым. Эта особенность неоценима при исследовании плохо отражающих образцов, например, оптических волоконных материалов.

Измерения в вакуумном УФ
SolidSpec-3700 DUV работает в вакуумном УФ от 165 нм (от 175 нм с интегрирующей сферой) с очень низкими значениями рассеянного света. Оптический блок и кюветное отделение продуваются азотом с целью удаления кислорода, поглощающего в области ниже 190 нм. Спектральный диапазон для измерений с использованием интегрирующей сферы — от 175 нм до 2600 нм.

Дополнительный модуль для прямого измерения в ультрафиолете (Direct detection unit DUV) позволяет расширить данный диапазон от 165 до 3300 нм и проводить измерения без использования интегрирующей сферы.

Работа с большими образцами
Большое отделение для образцов (900мм x 700мм x 350мм) позволяет удобно разместить образцы максимальной величины 700мм х 560 мм х 40 мм. Вертикальное расположение оптического пучка позволяет проводить измерения образцов, расположенных горизонтально. Возможно измерение по всей поверхности образца площадью 310 х 310 мм2. Автоматическая система перемещения образца позволяет проводить измерения в предварительно заданной точке образца с одновременной продувкой азотом. Достаточное количество необходимых приставок, таких как приставка нарушенного полного внутреннего отражения (НПВО) и др. значительно расширяют области применения данного спектрофотометра.

Приставки и аксессуары (опция)

  • Блок детектирования DDU-DUV (для анализа твердых и жидких проб)
  • Устройство прецизионной подвижки, может смещаться по X-Y (для автоматизации измерений)
  • Приставка для измерения зеркального отражения
  • Блок для очистки азота
  • Приставка абсолютного зеркального отражения с возможностью измерения при разных углах (5⁰, 12⁰, 30⁰, 45⁰)
  • Интегрирующая сфера

 

Технические характеристики спектрофотометров SolidSpec-3700/3700DUV

 

Спектральный диапазон SolidSpec-3700: стандартная модель 240–2600 нм; с использованием приставки для прямого детектирования 190–3300 нм.
SolidSpec-3700DUV: модель для измерения в глубоком УФ 175–2600 нм; с использованием приставки для прямого детектирования 165–3300 нм.
Спектральная ширина щели 8-ступенчатая: 0,1; 0,2; 0,5; 1; 2; 3; 5; 8 нм в УФ/видимой области
10-ступенчатая: 0,2; 0,5; 1; 2; 3; 5; 8; 12; 20; 32 нм в ближней ИК области
Разрешение(*) 0,1 нм
Шаг по длине волны от 0,01 до 5 нм
Точность отображения длины волны шаг 0,01 нм
Погрешность установки длины волны(*) ± 0,2 нм в УФ / видимой области
± 0,8 нм в ближней ИК области
Воспроизводимость длины волны(*) ± 0,08 нм в УФ/видимой области
± 0,32 нм в ближней ИК области
Скорость сканирования длины волны Максимально 3600 нм/ в минуту для ФЭУ и InGaAs-детектора
Максимально 1600 нм/ в минуту для PbS-детектора
Переключение ламп Автоматическое переключение (можно выбрать в интервале между 282 и 393 нм с шагом 0,1 нм)
Уровень рассеянного излучения(*) < 0,00008% (220 нм, NaI)
< 0,00005% (340 нм, NaNO2)
< 0,0005% (1420 нм, H2O)
< 0,005% (2365 нм, CHCl3)
Уровень шума 0,0002 Abs или менее (500 нм)
0,00005 Abs или менее (1500 нм), щель 8 нм, пост. времени 1 с
Колебания базовой линии ± 0,003 Abs (от 240 до 350 нм),
± 0,002 Abs (от 350 до 1600 нм), ± 0,004 Abs (от 1600 до 2600 нм),
± 0,001 Abs (от 200 до 3000 нм) при использовании DDU
Дрейф

SolidSpec-3700 0,0002 Abs/час (после 2 часов прогрева прибора, 500 нм, постоянная времени 1с)                                                 SolidSpec-3700DUV 0,0003 Abs/час (после 2 часов прогрева прибора, 500 нм, постоянная времени 1с)

Источники света 50 Вт галогенная лампа (2000 часов работы)
Дейтериевая лампа (1250 часов работы) Встроенное автоматическое позиционирование ламп.
Монохроматор Двойной монохроматор с дифракционными решетками
Детекторы УФ/видимая область: ФЭУ (типа R928 для SolidSpec-3700, R955 для SolidSpec-3700DUV)
Ближняя ИК область: InGaAs фотодиод и охлаждаемый PbS
Фотометрический диапазон от –6 до 6 Abs
Оптическая схема Двухлучевая
Размеры, масса 1000 x 800 x 1200 мм (Ш х Г х В), 170 кг

(* измерения проводили с использованием Дополнительного модуля для прямого измерения в ультрафиолете DDU-DUV)

 

Программное обеспечение

Программное обеспечение UVProbe включает в себя функции для измерения спектра, количественного анализа, кинетики и вывода полученных результатов в виде отчета.

 

 

Обратная связь